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声学扫描显微镜ppt下载

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2.48 MB
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素材名堂:
.ppt
素材上传:
lipeier
上传时间:
2019-06-09 10:54:36
素材编号:
232743
素材种别:
课件PPT
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声学扫描显微镜ppt

这是声学扫描显微镜ppt,网罗了显微镜种类简介,扫描声学显微镜的原理,扫描声学显微镜的性能及在质料迷信中的应用,超高压电子显微镜等外容,迎接点击下载。

万豪牛牛棋牌声学扫描显微镜ppt是由红软PPT收费下载网推荐的一款课件PPT类型的PowerPoint.

超高压电子显微镜 主要用处: 不雅不雅测质料、矿物、生物样品、器件透射电子显微象及电子衍射图,对样品微不雅不雅组织、结构、弱点等定性、定量剖析。 可对样品在加热、拉伸、电子辐照等条件下微不雅不雅组织的变换历程阻拦静态不雅不雅测。 仪器种别: 03040701 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /透射式电子显微镜 目的信息: 加速电压:1000kV 镌汰倍数:150倍~30万倍晶格分辨率:0.27nm 选区衍射相机长:2~6m 试样可加热温度:1000℃ 附件信息: 加热台(室温-1000℃),拉伸台加伸台(室温-1000℃),静态历程摄象录象系统。双倾台(±45° 该仪器是我国最大型的透射电子显微镜,它主要用于种种质料的微结构剖析,组织特点和相剖断,弱点研究等。与浅易电子显微镜相对比,它可以阻拦微不雅不雅历程的静态实验不雅不雅察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的不雅不雅察剖析和半导体微器件结构研究。同时,本实验室样品制备、数据效果处置赏罚赏罚等隶属装备齐全,为科研实验创作缔造了优胜条件。 透射电子显微镜 JEM-2010F透射电镜 在光学显微镜下没法看清小于0.2µm的纤细结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以前进显微镜的分辨率。1932年Ruska创作缔造了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短许多,而且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成正比,也就是说电压越高波长越短。现在TEM的分辨力可达0.2nm。 扫描电子显微镜 场离子显微镜 扫描声学显微镜 扫描声学显微镜基泉源基础理     扫描声学显微镜是一种集声学、电子、机械、盘算机等手艺为一体的高科技产物,有透射型和反射型两种,透射型只能不雅不雅察很薄的试件,对样品制备有一定请求。而反射型的优点是试件厚度不受限制,是以有着越发普遍的应用领域,现在可购置到的扫描声学显微镜商品为反射型。反射式扫描声学显微镜原理如图所示。 C-SAM的服务    超声波扫描显微镜(C-SAM)主要应用于封装外部结构的剖析,由于它能供应IC封装因水气或热能所组成破损剖析,例如裂痕、朴陋和脱层。    C-SAM外部造影原理为电能经由聚焦转换镜发生超声波触击在待测物品上,将声波在不合接口上反射或穿透讯号吸收后影象处置赏罚赏罚,再以影象及讯号加以剖析。 C-SAM可以在不需破损封装的情形下探测到脱层、朴陋和裂痕,且具有类似X-Ray的穿透功效,并可以找出效果发生的职位和供应接口数据,是互补的两种装备 主要应用规模  晶元面处脱层  锡球、晶元、或填胶中之裂痕  晶元倾斜  种种能够之孔洞(晶元接合面、锡球、填胶…等)  覆晶构装之剖析 非破损性质料外部结构测试    普遍应用于半导体工业,质料测试,生命迷信等领域 视觉效果 定量剖析 自动控制 -3D形貌再现 -同时不雅不雅察多个层面 -显示样品的机械性能(硬度,密度,压力等) -实时超声波飞时图表(A-Scan) -纵向截面图象(B-Scan) -XY图象(C-Scan, D-Scan, 自动扫描, 多层扫描) -第二个监视器便于图象的不雅不雅察和操作 -柱状图显示 -长度丈量 -膜厚丈量 -多要领图象处置赏罚赏罚 -超声波传输时间丈量 -无毁伤深度丈量 -数字旌旗暗记剖析 -相位丈量 —自动XYZ扫描 -自动存储仪器参数 -应用分层运算措施阻拦自动掉落效分辨 -自动滤波参数设置 -换能器自动聚焦 -高分辨率下自动阻拦高速扫描 KSI v-400E 性能参数    ● 频率规模:1~550MHz    ● 换能器选择:5~400MHz    ● 扫描规模:0.20×0.20mm~400×400mm    ● 扫描速率:2000mm/秒    ● 扫描机构分辨率:0.1μm    ● 扫描形式:A, B,C,D, G, X, 3D    ● 最小门限时间1ns    ● FFT(快速傅里叶变换)    ● 阻抗丈量,伪玄色体现    ● 图象输入可生涯为BMP及SAM名堂    ● 仪器尺寸:200×65×130cm 在质料迷信中的应用     声波在固体中撒播,泛起出不合的声能撒播类型。除有数的体声波(纵波和剪切波)外,声外面波(SAW)异常存在于许多质料当中。声波的不合类型以严重的要领与质料的弹性特点相互作用,从而发生了携带大童信息的反差。在声显微术中,这些信息可从下述四个方面取得,经由历程剖析可以取得大量的所需质料特点。 1.表层成像     在这类形式中,体声波透入样品并在样品外部折射而聚焦.是以,表层的特点能招致反射,从而在所组成质料工程的图象中发生照顾的反差以反映所检测的表层状态。 2.阻抗成像        介质的声学阻抗被体现为声速与密度的乘积(Z =CP),当声波入射于两种介质界面时,按反射系数发生反射:R= CZz一Zi)/CZz }-ZO(此处Z:和Zz是两种介质的声阻抗),反射功率为R的平方。当显微镜聚焦于外面时,阻抗的变换将体现为反差的变换。是以,聚合物及其复合资料的组成能用声学法测出,由于图象反差的变换与声学阻抗的变换相对应,是以也就与密度和模蚤的变换相对应。阻抗成像形式适用于如聚合物类的低密度质料。例如,这类成像要领能用于分辨两相聚合物间的界面。阻抗成像也适用于半导体加工中的光刻胶残余量的检查,这是由于光刻胶的声阻抗大大低于硅或氧化物,是以其体现作声反射的增添。     阻抗成像要领不适用于高密度质料(大部门金属、陶瓷和半导体)中的阻抗变换成像。假定Zz ;Zi,反射系数R的变换不显着,R靠近于1。在这类情形下,可以接纳声外面波(SAW)成像形式。 3.声衰面波成像     当一束平面声纵波以一个临界入射角(式中Cw和Cx划分为藕合液及外面声波的速率)经由历程藕合液投射到固体样品的外面时,就会发生有走漏的Rayleigh波,即Rayleigh波在沿质料外面撒播的同时,将赓续向藕合液中以纵波的形式辐射声波,而且所辐射的声纵波的偏向同外面的法线异样成0a角。有走漏的Rayleigh波是纵触及横波的混淆波,它脱离外面后按指数纪律衰减。当知足共焦条件时,走漏Rayleigh波被透镜体上的换能器所吸收并勉励起电压。Rayleigh波的撒播对弹性变换异常迅速,这就使得图象反差得以前进。经由历程改变透镜相关于样品的职位,可以取得较优的图象反差。 是以,质料的晶粒组织及结晶学取向的图象在无需侵蚀试样外面的条件下便可取得。这些质料可以是光学各向异性或各向异性的,当侵蚀外面(提醒这些结构的尺度手艺)是艰辛的、太费时的或弗成能时,这项才干就显得特殊主要。   由于外面裂纹能极大地影响Rayleigh波撒播特点,是以,声学显微镜是探测裂纹的迅速手艺。可以探测到何等细的裂纹是没无限制的。经由历程对扫描声学显微镜和扫描电子显微镜的较量实验注解,只需外面间泛起原子巨细的划分,声图象即会泛起较强的反差。  4. V (Z)曲经剖析及应用    扫描声学显微镜除显微成像一大功效外,此外一功效就是测试V (Z)曲线。当声透镜的聚焦声束在样品外部沿垂直于样品外面偏向上(Z)向的不合职位时,换能器的输入电压不合。输入电压V与焦点坐标Z的函数关系称之为V (Z) 阻拦语    扫描声学显微镜是供应质料信息的一种异常有用的检测工具,它无需严重的样品制备,便可无损地对质料外面及表层外部成像而阻拦显微剖析,它能独具特点地供应质料外部结构及质料力学参数等主要质料性能参数。声学显微镜的泛起,填补了其他现有微不雅不雅测试手段(如光学显微镜,扫描电子显微镜)的缺乏,从而令人们取得了研究熟悉物质结构的有力工具。可以预感,声学显微镜在质料迷信研究中将会取得愈来愈普遍的应用,声学显微镜,光学显微镜、扫描电子显微镜及其他质料微不雅不雅检测手段的综合应用,将使质料迷信的研究进入一个新时代

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